[1]
Engkir Sukirman and Syahfandi Ahda 2011. ANALISIS KUALITATIF DAN KUANTITATIF FASA (Na0,5Bi0,5)TiO3 DENGAN TEKNIK DIFRAKSI SINAR-X MENGGUNAKAN METODE RIETVELD. Jurnal Sains Materi Indonesia. 13, 1 (Oct. 2011), 69–74. DOI:https://doi.org/10.17146/jusami.2011.13.1.5403.