APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT

Authors

  • Eriawan Rismana Pusat Teknologi Farmasi dan Medika (PTFM)-BPPT
  • Hadi Nur Institut Ibnu Sina-Universiti Teknologi Malaysia
  • Salasiah Endud Jurusan Kimia-Universiti Teknologi Malaysia

DOI:

https://doi.org/10.17146/jsmi.2012.13.2.4713

Keywords:

Difraksi sinar-X, CdS/Polimer, CdS/APTMS-Al-MCM-41

Abstract

APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT. Karakterisasi nanopartikel Kadmium Sulfida (CdS) pada nanokomposit CdS/Polimer dan stabilitas pola difraktogramstruktur mesopori dariAl-MCM-41 pada nanokomposit CdS/APTMS-Al-MCM-41 telah dilakukan denganmenggunakan teknik difraksi sinar-X. Polimer yang digunakan adalah poli(steren-divinilbenzen) tersulfonasi [SO3H-P(S-DVB)]. Keberadaan nano partikel CdS dalam CdS/SO3H-P(S-DVB) ditunjukkan oleh adanya puncak lebar pada difraktogram di posisi 2θ = 26,40° ; 43,75° dan 52,00° yang sesuai dengan pola difraktogram CdS nano bentuk kubik (111), (220) dan (311). Sedangkan stabilitas pola difraktogramdari CdS/APTMS-Al-MCM-41 ditunjukkan oleh adanya puncak tajam pada difraktogram di posisi 2θ = 2,1° (100) dan 3 puncak lemah di 2θ = 3,7° (110), 4,3° (200) dan 5,5° (210) yang menunjukkan pola difraktogram Al-MCM-41 sebagai matriks host dari CdS/APTMS-Al-MCM-41.

Downloads

Download data is not yet available.

References

. S. TIWARI and S. TIWARI, Cryst. Res. Technol., 41 (1) (2006) 78-82

. CHEN X.,WANG X., LIU L., YANG D. and FAN L., Anal. Chim. Acta., 542 (2005) 144-150

. HIRAI T. and BANDO Y., J. Coll. Interf. Sci., 288 (2005)513-516

. CROOKS R.M.,ZHAO M.,SUN L.,CHECHIK V. and YEUNG L. K., Acc. Chem. Res., 34 (2001) 181-190

. DUTTA P. and FENDLER J. H., J. Coll. Interf. Sci., 247 (2002) 47-53

. LIBERT S., GORSHKOV V., PRIVMAN V., GOIA D. and MATIJEVIC E., Adv. Coll. Interf. Sci., 100-102 (2003) 169-183

. J. S. NUNES, C. L. DE VASCONCELOS, F. A. O. CABRAL, J. H. DEARAUJO, M. R. PEREIRAand J. L. C. FONSECA,Polymer, 47 (2006) 7646-7652

. C. C. WANG,A. L. CHEN and I. H. CHEN, Journal of Colloid and Interface Science, 293 (2) (2005) 421-429

. WEI XU, Y. LAO, D. L.AKINS, J. Phys. Chem. B, 106 (2002) 11127-11131

. Z. ZHANG, S. DAI, X. FAN, D. A. BLOM, S. J. PENNYCOOK and Y. WEI, J. Phys. Chem. B, 29 (2001)6755-6758

. W. S. CHAE, J. H. KO, I. W. HWANG, Y. R. KIM,,Chemical Physics Letter, 365 (2002) 49-56

. J. M. KIM, J. H. KWAK, S. JUN, R. RYOO, J. Phys. Chem., 99 (1995) 16743-16747

Downloads

Published

28-02-2012

How to Cite

Eriawan Rismana, Hadi Nur, & Salasiah Endud. (2012). APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT. Jurnal Sains Materi Indonesia, 13(2), 103–107. https://doi.org/10.17146/jsmi.2012.13.2.4713

Issue

Vol. 13 No. 2 (2012): Jurnal Sains dan Materi Indonesia

Section

Articles

License

Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International License.