PENGUJIAN SIFAT FEROELEKTRIK FILM Ba0,5Sr0,5TiO3 DOPING Nb2O5 (BNST)
Keywords:
BST, XRD, metode CSD, ferroelektrik, polarisasiAbstract
PENGUJIAN SIFAT FEROELEKTRIK FILM Ba0,5Sr0,5TiO3 DOPING Nb2O5 (BNST). Film BST 1M dan BST 1M doping Nb2O5 dengan variasi % doping (1%, 2%, 4%) dideposisi pada substrat Si (111) dan gelas corning dengan metode penumbuhan CSD (Chemical Solution Deposition) dengan teknik spin- coating pada kecepatan putar 3000 rpm selama 30 detik. Film yang terbentuk dilanjutkan dengan proses sintering pada temperatur 450ºC untuk substrat corning dan 850ºC untuk substrat Si (111) selama 3 jam. Sistem kristal dan orientasi film BST dan BNST diuji dengan difraksi sinar-X dan dilakukan penghalusan (refinement) dengan analisis Rietveld yaitu menggunakan GSAS. Hasil penghalusan dengan GSAS diperoleh fasa BST yang terkandung pada film BST 1M, BNST 1M 1%, 2% dan 4% (substrat silikon) bersesuaian dengan Ba0,5Sr0,5TiO3 (ICDD) dengan sistem kristal kubik dan parameter kisi (a) berturut-turut 3,944Å, 3,949Å, 3,950Å, 3,904Å. Sedangkan untuk film BNST 1M 1%, 2% dan 4% (substrat corning) bersesuaian dengan BaTiO3 (ICDD) dengan sistem kristal tetragonal dan parameter kisi (a=b) berturut-turut 3,997Å, 3,987Å, 3,996Å, parameter kisi (c) 4,051Å, 4,041Å, 4,058Å. Harga polarisasi spontan film pada substrat Si (111) untuk BNST 1M 1% adalah 72,100µC.cm-2, BNST 1M 2% adalah 71,680µC.cm-2 dan BNST 1M 4% adalah 51,440µC.cm-2. Sedangkan harga polarisasi spontan film pada substrat corning untuk BNST 1M 1% adalah 121,440µC.cm-2, BNST 1M 2% adalah 121,450µC.cm-2 dan BNST 1M 4% adalah 119,690µC.cm-2.
Downloads
References
. SAYER, M. and CHIVUKULAS, V. Handbook of Thin Film Process Technology. Dalam: Azizahwati. (2002). Studi Morfologi Permukaan Film Tipis PbZr0.525Ti0.475O3
yang Ditumbuhkan dengan Metode DC Unbalanced Magnetron Sputtering. Jurnal Natur Indonesia, 5 (1) (1995) 50-56
. HIKAM,M.,B.SOEGIJONO,P.W.K.ANGGRAINI, T. SUMARDI, C. SUNANDAR, T.YOGARAKSA., Development of Barium Strontium Titanate (BST) Thin Film Doped by Fe. One Day Workshop on Materials & Metalurgy [Jurusan Fisika, FMIPA, Universitas Indonesia (UI) & Universiti Kebangsaan Malaysia (UKM)]
. Uchino, K., Ferroelectric Devices. Marcel Dekker, Inc., NewYork, (2000)
. ADEM, U., Preparation of BaxSr1-xTiO3 Thin Films by Chemical Solution Deposition and Their Electrical Characterization, Thesis. Departement of Metallurgical and Materials Engineering, Middle East Technical University, (2003) [http://etd.lib.metu.edu.tr/upload/1127679/index.pdf akses 21-03-2006/19.21 WIB]
. IRZAMAN, Studi Lapisan Tipis Pyroelektrik PbZr0,52Ti0,48O3 (PZT) yang Didadah Tantalum dan Penerapannya Sebagai Detektor Infra Merah, Disertasi. ITB, Bandung: (2005)
. JONA, F. and G. SHIRANE, Disertasi. ITB, Bandung, (1993)
. SUPRIYATMAN. Uji Sifat Listrik Struktur Kapasitor Film Tipis Bahan PbZrxTi1-xO3 Doping In2O3, Skripsi. IPB, Bogor, (2004)
. SARWONO, E., Perhitungan Polarisasi Spontan dan Momen Quadrupol Potensial Listrik Bahan PIZT (PbInxZryTi1-x-yO3-x/2), Tesis. UI, Jakarta, (2004)
Downloads
Published
How to Cite
Issue
Section
License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International License.





