STUDI PENGARUH KONSENTRASI AL PADA STRUKTUR KRISTAL DAN MORFOLOGI FILM TIPIS AlxGa1-xN/Si(111) YANG DITUMBUHKAN DENGAN TEKNIK PA-MOCVD

Authors

  • Heri Sutanto Laboratorium Fisika Material Elektronik - ITB Jl. Ganesha 10, Bandung 40132 Jurusan Fisika FMIPA - UNDIP Jl. Prof. H. Soedarto, SH Tembalang, Semarang 50275
  • Agus Subagio Laboratorium Fisika Material Elektronik - ITB Jl. Ganesha 10, Bandung 40132 Jurusan Fisika FMIPA - UNDIP Jl. Prof. H. Soedarto, SH Tembalang, Semarang 50275
  • Edy Supriyanto Laboratorium Fisika Material Elektronik - ITB Jl. Ganesha 10, Bandung 40132 Jurusan Fisika, Universitas Negeri Jember Kampus Tegalboto, Jl. Kalimantan III/24, Jember 68121
  • Pepen Arifin Laboratorium Fisika Material Elektronik - ITB Jl. Ganesha 10, Bandung 40132 Jurusan Fisika FMIPA - UNDIP Jl. Prof. H. Soedarto, SH Tembalang, Semarang 50275
  • Sukirno Sukirno Laboratorium Fisika Material Elektronik - ITB Jl. Ganesha 10, Bandung 40132 Jurusan Fisika FMIPA - UNDIP Jl. Prof. H. Soedarto, SH Tembalang, Semarang 50275
  • Maman Budiman Laboratorium Fisika Material Elektronik - ITB Jl. Ganesha 10, Bandung 40132 Jurusan Fisika FMIPA - UNDIP Jl. Prof. H. Soedarto, SH Tembalang, Semarang 50275
  • Moehamad Barmawi Laboratorium Fisika Material Elektronik - ITB Jl. Ganesha 10, Bandung 40132 Jurusan Fisika FMIPA - UNDIP Jl. Prof. H. Soedarto, SH Tembalang, Semarang 50275

Keywords:

PA-MOCVD, Film tipis AlxGa1-xN, struktur kristal, morfologi permukaan

Abstract

STUDI PENGARUH KONSENTRASI AL PADA STRUKTUR KRISTAL DAN MORFOLOGI FILM TIPIS AlxGa1-xN/Si(111) YANG DITUMBUHKAN DENGAN TEKNIK PA-MOCVD. Film tipis AlxGa1-xN telah ditumbuhkan di atas substrat Si tipe-p dengan menggunakan teknik PA-MOCVD. Film tipis AlxGa1-xN ditumbuhkan dengan parameter-parameter: suhu substrat, laju alir N2, TMGa dan TMAl berturut-turut sebesar 700 oC; 90 sccm; 0,1 sccm dan 0,01sccm hingga 0,04 sccm. Film polikristal AlxGa1-xN yang ditumbuhkan mempunyai struktur heksagonal dengan bidang difraksi dominan (1010) dan (1011) hingga konsentrasi Al sebesar 6,78%. Diperoleh nilai kekasaran permukaan film dari pengukuran SPM pada range 11,44 nm sampai dengan 27,20 nm. Morfologi permukaan film semakin halus dengan peningkatan konsentrasi Al pada film. Penurunan nilai konstanta kisi hasil pengujian XRD terjadi karena kekosongan nitrogen pada film. Peningkatan konsentrasi Al pada film menyebabkan penurunan laju penumbuhan film tipis AlxGa1-xN yang terbentuk.

Downloads

Download data is not yet available.

References

. LIU, S.S, LI, P.W, LAN, W.H., and CHENG, Y.C., Materials Science and Engineering B, 126 (2006)33

. LU,Y., LIU, X., WANG, X., LU, D. C., LI, D., HAN, X., CONG, G., and WANG, Z., Crystal Growth, 263 (2004) 4

. JIANG, H. X., and LIN, J. Y., Optoelectronics Rev., 10 (4)(2002) 271

. BALMER, R. S., HILTON, K. P., NASH, K. J., UREN, M. J., WALLIS, D. J., LE, D., WELLS,A., MISSOUS, M., and MARTIN, T., Semicond. Sci. Tech., 19 (2004) L65

. ZHANG, B.S., WU, M., LIU, J. P., CHEN, J.,ZHU,J. J., SHEN, X. M., FENG, G., ZHAO, D. G., WANG,Y. T., YANG, H., and BOYD, A. R., Crystal Growth, 27 (2004) 316

. LIAW, H. M., VENUGOPAL, R., WAN, J., and MELLOCH, M. R., Solid State Electron, 45 (2001) 417

. BERNAT, J., JAVORKA, P., FOX,A., MARSO, M., and KORDOS, P., Elect. Mat., 33 (5) (2004) 436.

. GIL, B., Group III Nitride Semiconductor Compounds: Physics and Applications, Oxford Universuty Press, United State, (1998)

. SUGIANTO, SUPRIYANTO, E., WENDRI, N., SUTANTO, H., BUDIMAN, M., ARIFIN, P., dan BARMAWI, M., Jurnal Fisika HFI A, 5 (2002) 05861-05865

. JONES,A.C. and O’BRIEN, P., CVD of Compound Semiconductors: Precursors Synthesis, Development and Applications, VCH Verlagsgesellchaft mbH, Germany, (1997)

. SURYANARAYANA, C., and NORTON, M. G., X-Ray Diffraction A Practical Approach, Plenum Press, NewYork, (1998)

. LIOU, B.T., YEN, S.H., and KUO, Y.K., Applied Physics A, 00, (2005) 1

. SUTANTO, H., SUBAGIO,A., SUPRIYANTO E., ARIFIN, P., SUKIRNO, BUDIMAN, M., and BARMAWI, M., Optical Emission Spectroscopy of Active Nitrogen Species Induced by 2.45 GHz Microwave Plasma Source, Proceedings on The 8th International Conference on Quality in Research (QIR), 9-10 Agustus 2005, (2005) MM11-OMM-07

Downloads

Published

21-10-2026

How to Cite

Heri Sutanto, Agus Subagio, Edy Supriyanto, Pepen Arifin, Sukirno Sukirno, Maman Budiman, & Moehamad Barmawi. (2026). STUDI PENGARUH KONSENTRASI AL PADA STRUKTUR KRISTAL DAN MORFOLOGI FILM TIPIS AlxGa1-xN/Si(111) YANG DITUMBUHKAN DENGAN TEKNIK PA-MOCVD. Jurnal Sains Materi Indonesia, 7(4), 273–278. Retrieved from https://ejournal.brin.go.id/jsmi/article/view/6440