KARAKTERISASI KOMPONEN PLAT HARD DISK SEBAGAI MEDIA PENYIMPAN DATA

Abstract

KARAKTERISASI KOMPONEN PLAT HARD DISK SEBAGAI MEDIA PENYIMPAN DATA. Plat merupakan komponen terpenting dalam suatu hard disk dikaitkan dengan fungsinya sebagai media penyimpan data. Pengujian komposisi material yang menyusun hard disk dalam percobaan ini dilakukan dengan menggunakan alat EDS (Energy Dispersive Spectometer). Pengujian strukturmikro dilakukan dengan Omniment mikroskop optik dan SEM. Pengujian kekerasan dilakukan menggunakan LECO Hardness Testing Maschine M-400-HI. Material penyusun lapisan hard disk dalam percobaan ini terdiri dari Ni 78%, P 13%, Cr 4% dan Co 5%. Sedangkan material substrat terdiri dari paduan logam Al-Mg. Pengujian hardness sebesar 72 VHN sesuai dengan karakteristik paduan Al-Mg. Pengamatan terhadap strukturmikro lapisan Al-Mg menunjukkan bentuk butiran equiaxial sehingga menggambarkan pembuatan lapisan ini menggunakan cara penekanan isostatik. Tebal lapisan di atas paduan Al-Mg adalah 10 µm, sedangkan strukturmikro lapisan tipis tidak berhasil diamati.

ABSTRACT

CHARACTERIZATION OF PLATTER HARD DISK AS DATA STORAGE MEDIA. The most important part in hard disk drive is the plat which has magnetic coating on its surface as the media for data storage. The harddisk material observed in this experiment was catagorized as thin film media. Material composition was done by EDS (Energy Dispersive Spectrometer) and showed thas the plat consist of 78% Ni, 13% P, 4% Cr and 5% Co as thin layer, whereas the base material consist of Al-Mg alloy. This result was also supported by the hardness data 72 VHN that is in good agreement with the characteristic of Al-Mg alloy done by LECO Hardness Testing Maschine M-400-HI. The microstructure of base material obtained by using the Omnimet optical microscope and showed the equiaxial grain shape of Aluminum. This result showed that the production of base material use the isostatic pressing instead of casting. The 10 µm thickness of the layer observed by using Philip SEM (Scanning Electron Microscope), whereas the microstructure of the thin layer were not obtained by using this equipment.