ANALISIS KUALITATIF DAN KUANTITATIF FASA (Na0,5Bi0,5)TiO3 DENGAN TEKNIK DIFRAKSI SINAR-X MENGGUNAKAN METODE RIETVELD

Authors

  • Engkir Sukirman Pusat Teknologi Bahan Industri Nuklir (PTBIN) - BATAN
  • Syahfandi Ahda Pusat Teknologi Bahan Industri Nuklir (PTBIN) - BATAN

DOI:

https://doi.org/10.17146/jusami.2011.13.1.5403

Keywords:

(Na0,5Bi0,5)TiO3, Analisis kualitatif dan kuantitatif, Metode Rietveld

Abstract

ANALISIS KUALITATIF DAN KUANTITATIF FASA (Na0,5Bi0,5)TiO3 DENGAN TEKNIK DIFRAKSI SINAR-X MENGGUNAKAN METODE RIETVELD. Telah dilakukan analisis kualitatif dan kuantitatif fasa (Na0,5Bi0,5)TiO3 (NBT) dengan teknik difraksi sinar-X, metode Rietveld. Cuplikan NBT disintesis dengan metode reaksi padatan. Struktur mikro cuplikan diteliti dengan bantuan mikroskop elektron. Dalam penelitian ini ada enammodel masukan parameter least square, yakni model NBT1, NBT2, NBT3, NBT4, NBT5 dan NBT6. Hasil analisis menunjukkan bahwa model struktur yang paling cocok adalah model NBT3, yakni suatu model struktur dengan NBT terdiri dari dua fasa, yakni fasa tetragonal, grup ruang I4/mcm, No. 140, parameter kisi a = b = 5,485(1)Å, c = 7,772(2)Å, α=β=γ= 90°, fraksi berat 93,44 % dan fasa rombohedral, grup ruang R3c, No. 161-1, parameter kisi a = b = c = 3,908(1)Å, α=β=γ= 90,08(4), fraksi berat 6,56 %. Indeks reliabilitas Rwp =15,91 dan Rp = 11,86. Regangan kisi (ηT ) dan ukuran kristalit (DR) untuk sistem kristal tetragonal, sebesar 0,015 dan 150,00 Å. Sedangkan regangan kisi (ηT) dan ukuran kristalit (DR) untuk sistem kristal rombohedral, sebesar 0,016 dan 142,857 Å. Keberadaan unsur penyusun senyawa NBT di dalam cuplikan, yakni Bi, Na, Ti dan O, dibuktikan dari kurva cacahan hamburan sinar-X karakteristik terhadap energi dispersif. Secara dominan cuplikan NBT berfasa tetragonal ( > 90 %). Terbentuknya fasa rombohedral ( < 7 %) di dalam cuplikan NBT mungkin akibat ukuran butir dan distribusi tekanan di dalam prekursor pada saat pembuatan pelet tidak merata. Sehingga difusi atom-atom Bi, Na dan Ti pada saat proses sinter tidak merata di seluruh cuplikan.

Downloads

Download data is not yet available.

References

. E. AKSEL and J. L. JONES, Sensors, 10 (2010) 1935-1954

. K. KUMARI, K. PRASAD, K.L. YADAV and S. SEN, Brazilian Journal of Physics, 39(2) (2009) 297-300

. G. A. SMOLENSKII, V.A. ISUPOV, A.I. AGRANOVSKAYA, N.N. Krainik, Sov. Phys.-Solid State, 2(1961) 2651-2654

. C. S. TU, I. G. SINY and V. H. SCHMIDT, Phys. Rev.,B 49 (1994)11550-11559

. J. SUCHANICZ and J. KWAPULINSKI, Ferroelectrics, 165 (1995) 249-253

. G. O. JONES and P.A. THOMAS, Acta Crystallogr. B-Struc. Sci., 58 (2002) 168-178

. K.PRASAD, K. KUMARI, LILY,K. P. CHANDRA, K. L. YADAV and S. SEN, Adv. Appl. Ceram., 106 (2007)241

. K. PRASAD, K. KUMARI, K. P. CHANDRA, K. L. YADAV and S. SEN, Materials Science Poland, 27(2) (2009) 373-384

. M. AHART, M. SOMAYAZULU, R. E. COHEN, P. GANESH, P. DERA, H.K. MAO, R. J. HEMLEY, Y. REN, P. LIERMANN and Z. G. WU, Nature, 451

(2008)545-U542

. F. IZUMI, A Rietveld-Refinement Program RIETAN-94 for Angle-Dispersive X-Ray and Neutron Powder Diffraction, National Institute for

Research in Inorganic Materials, Ibaraki, Japan, (1994) 1-21

. Z. X. CHEN,Y. CHEN,Y. S. JIANG, J. Phys. Chem., B 106 (2002)9986

. H. D. MEGAW and C. N. W. DARLINGTON, Acta Cryst., A31 (1975) 161

. YUAN LI, SHAN QIN and FRIEDRICH SEIFERT, J. Solid State Chem., 180 (2007) 824-833

. R. H. MITCHELL,A. R. CHAKHMOURADIAN, P.M. WOODWARD, Phys. Chem. Miner., 27 (2000) 583-589

. BHARATI R.REHANI, P. B. JOSHI,KIRIT N. LAD and ARUN PRATAP, Indian Journal of Pure & Apllied Phys., 44 (2006) 157-161

Downloads

Published

31-10-2011

How to Cite

Engkir Sukirman, & Syahfandi Ahda. (2011). ANALISIS KUALITATIF DAN KUANTITATIF FASA (Na0,5Bi0,5)TiO3 DENGAN TEKNIK DIFRAKSI SINAR-X MENGGUNAKAN METODE RIETVELD. Jurnal Sains Materi Indonesia, 13(1), 69–74. https://doi.org/10.17146/jusami.2011.13.1.5403